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Détails du produit
  • Modules confirmés pour l'Open-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
  • Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
  • Montage simple et rapide

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Données techniques